В университете прошло заседание секции «Метрологические обеспечение наукоемких технологий»

24 Мая 2017
В заседании секции приняли участие доктора и кандидаты технических наук Физико-технологического института, ведущий научный сотрудник НИЦПВ к.ф.-м.н., сотрудник метрологического центра НИЦПВ, ведущий научный сотрудник ИПТМ РАН д.т.н., старший научный сотрудник ИПТМ РАН к.т.н., научный сотрудник НИЦПВ, аспиранты и студенты магистратуры Кафедры метрологии и стандартизации.

На секцию было заявлено 14 докладов от сотрудников, аспирантов и студентов магистратуры. На заседании было представлено 12 докладов. Ряд докладов был посвящен вопросам метрологического обеспечения систем нанометрии, в частности разработке методик оценки нелинейности развертки растровых электронных микроскопов, измерения линейных наноразмерных параметров мер высоты ступени путем трехмерной реконструкции изображения РЭМ, определению средств метрологического обеспечения систем лазерной и оптической нанометрии, а также метрологической экспертизе спектрофотометрического метода измерения концентрации наночастиц металлов в жидких средах. Некоторые доклады были посвящены таким вопросам, как исследование показателей устойчивого функционирования нейроподобных систем, метрологическое обеспечение систем ЭКГ, организационные принципы метрологического обеспечения систем нанометрии, разработка методики сертификации электронного оборудования и методики оценки показателей качества наилучших доступных технологий.

Практически все доклады были выполнены на достаточно высоком уровне, вызвали интерес и носили дискуссионный характер.

По результатам заседания секции признаны лучшими и рекомендованы к опубликованию в Российском технологического журнале следующие статьи, подготовленные по результатам докладов:

• С.С. Анцыферов, В.Б. Митюхляев, В.Г. Маслов «Методика оценки нелинейности развертки растровых электронных микроскопов в широком диапазоне увеличений»;

• С.С. Анцыферов, К.Н. Фазилова, К.Е. Русанов, «Показатели устойчивого функционирования нейроподобных систем с активными элементами»;

• С.С. Анцыферов, Д.А. Моисеева «Средства метрологического обеспечения систем лазерной и оптической нанометрии».

Для публикации в сборнике трудов рекомендованы следующие доклады:

• студентка магистратуры А.П. Чернова «Метрологическая экспертиза спектрофотометрического метода измерения концентрации наночастиц металлов в жидких средах»;

• аспирант А.В. Иващенко «Вопросы метрологического обеспечения систем ЭКГ»;

• студент магистратуры Р.О. Светлов «Проект стандарта системы управления краткосрочными техническими проектами».

Система Orphus