Кафедра метрологии и стандартизации

Базовая кафедра № 130 - твердотельной электроники Базовая кафедра № 132 - лазерной техники Базовая кафедра № 134 - инфракрасной техники и электронной оптики Базовая кафедра № 136 - СВЧ приборов и устройств Базовая кафедра № 140 – фотоники Базовая кафедра № 146 – материалов и функциональных структур информационных систем и СВЧ техники Базовая кафедра оптических систем и технологий при ОАО «Лыткаринский завод оптического стекла» Кафедра высшей математики и программирования Кафедра компьютерного дизайна Кафедра метрологии и стандартизации Кафедра наноэлектроники Кафедра оптико-электронных приборов и систем Кафедра физики Кафедра цифровых и аддитивных технологий Кафедра электроники
Общая информация
Минаева Ольга Александровна
Минаева Ольга Александровна
Заведующий кафедрой
Доктор технических наук, профессор
Пр-т Вернадского, 78, ауд. В-418
Телефон: +7 499 215-65-65 доб. 3045
E-mail: minaeva_o@mirea.ru
Часы приема:
Пн 14:00 — 16:00
Ср 14:00 — 16:00
Состав НПС и НПР:
Должность Количество ППС
Профессора 5
Доценты 7
Преподаватели и ассистенты 7
Направления подготовки
Бакалавриат и специалитет:
Магистратура:
Основные дисциплины, читаемые преподавателями кафедры:
  • Виртуальные испытания
  • Цифровые измерительные системы
  • Компьютерные технологии цифровых измерительных систем
  • Метрологический надзор и цифровизация измерительных процессов
  • Испытания и подтверждение соответствия средств измерений
Основные направления научных исследований на кафедре:
  • Проведение, совместно с метрологическими институтами Росстандарта, экспериментальных исследований, поверки, калибровки и испытаний в целях утверждения типа средств измерений, необходимых для национального рынка, с учётом задач импортозамещения;
  • Анализ основных метрологических задач и главных направлений метрологических служб ведущих промышленных предприятий. Участие в разработке высокоточных средств измерений совместно с научно-метрологическими институтами и ведущими промышленными предприятиями;
  • Оценка показателей когнитивных систем в задачах моделирования технических объектов;
  • Разработка методик и метрологические исследования характеристик средств измерений для систем нанометрии;
  • Метрологические исследования в области спектрорадиометрии оптического измерения и контроль характеристик световой среды.
История кафедры

Специализированная учебно-научная лаборатория современных методов измерения

Учебно-научная лаборатория, предназначена для:

  • организации комплекса лабораторных и практических работ на высокоточном оборудовании в части исследования электрических параметров современных изделий электроники;  
  • создания комплекса лабораторных и практических работ по курсам, связанным с изучением методов измерения электрических параметров изделий электроники, автоматизацией производственных и технологических процессов на современном серийном оборудовании.
  • выполнения работ по исследованиям характеристик электронных изделий отечественного и иностранного производства.

© 2022 МИРЭА - Российский технологический университет