Top.Mail.Ru

Кафедра метрологии и стандартизации

Кафедра физики и технической механики Базовая кафедра № 130 - твердотельной электроники Базовая кафедра № 132 - лазерной техники Базовая кафедра № 134 - инфракрасной техники и электронной оптики Базовая кафедра оптических систем и технологий при ОАО «Лыткаринский завод оптического стекла» Базовая кафедра перспективных материалов электронной техники при АО «Плутон» Кафедра высшей математики–3 Кафедра индустриального программирования Кафедра компьютерного дизайна Кафедра метрологии и стандартизации Кафедра наноэлектроники Кафедра оптико-электронных приборов и систем Кафедра цифровых и аддитивных технологий
Минаева Ольга Александровна
Заведующий кафедрой
Доктор технических наук, профессор
пр. Вернадского, д. 78, кабинет В-418
Часы приема
ПН 14:00-16:00
СР 14:00-16:00
О кафедре
Кафедра была организована в 1999 году с целью совершенствования подготовки специалистов в области метрологии и стандартизации наукоёмких технологий. На кафедре метрологии и стандартизации ИПТИП РТУ МИРЭА обучаются студенты по направлениям 27.03.01 «Стандартизация и метрология», 27.03.02 «Управление качеством», 27.04.01 «Стандартизация и метрология».

В ходе подготовки студенты по направлению 27.03.01 получают теоретические и практические знания в области обеспечения единства измерений на основе современных требований обеспечения качества цифровых измерительных систем, подтверждения соответствия и безопасности продукции при решении фундаментальных и прикладных задач в различных областях науки и техники.

По направлению 27.03.02 студенты знакомятся с методами и принципами разработки документов по стандартизации, внедрения и анализа результативности функционирования системы менеджмента качества на предприятиях с использованием методик оценки качества технических средств на этапах всего жизненного цикла.

Специалисты по метрологии и стандартизации востребованы в ведущих Госкорпорациях «Росатом», «Роскосмос», «Ростех», предприятиях электронной промышленности, машиностроения, а также в Росстандарте, центрах стандартизации и метрологии, метрологических службах, национальных метрологических институтах «ВНИИФТРИ», «ВНИИОФИ», «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева», «НИЦ ПМ-Ростест». НИЦ Уникального приборостроения РАН.

Состав НПС и НПР:
Должность Количество ППС
Основные дисциплины, читаемые преподавателями кафедры:
  • Техническое регулирование в наукоёмких технологиях
  • Метрология и обеспечение единства измерений
  • Стандартизация
  • Законодательная метрология
  • Технический контроль с использованием цифровых измерительных технологий
  • Организация испытаний с использованием цифровых средств измерений
  • Обеспечение метрологической надёжности цифровых измерительных систем
  • Метрология, стандартизация и технические измерения
  • Техническое регулирование
  • Государственная система обеспечения единства измерений
  • Развернуть
    • Эталонная база средств измерительной техники
    • Контроль качества на этапах жизненного цикла продукции
    • Автоматизированные системы управления качеством
    • Национальные и международные стандарты в области менеджмента качества
    • Стандартизация и интеллектуальная собственность
    • Управление качеством в технических системах
    • Основы управления качеством продукции
    • Аккредитация испытательной лаборатории
    • Разработка и внедрение системы менеджмента качества
    • Сертификация системы менеджмента качества
    • Аудит системы менеджмента качества
    • Корректирующие и предупреждающие мероприятия при оценке несоответствия
Основные направления научных исследований на кафедре:
  • Проведение, совместно с метрологическими институтами, экспериментальных исследований, поверки, калибровки и испытаний в целях утверждения типа средств измерений, необходимых для национального рынка, с учётом задач импортозамещения
  • Анализ основных метрологических задач и главных направлений метрологических служб ведущих промышленных предприятий
  • Участие в разработке высокоточных средств измерений совместно с научно-метрологическими институтами и ведущими промышленными предприятиями
  • Разработка методик и метрологические исследования характеристик средств измерений
  • Метрологические исследования в области спектрорадиометрии и контроль характеристик световой среды
История кафедры