Состоялось заседание научного семинара «Радиотехнические и телекоммуникационные системы» Института РТС

13 февраля состоялось заседание научного семинара «Радиотехнические и телекоммуникационные системы» Института РТС на тему «Ключевые проблемы преобразовательной техники».

Докладчик — доцент кафедры электроники и механики Института ФТИ В.П. Бабенко.

Тематика научного семинара была посвящена исследованию статических и динамических характеристик и параметров силовых MOSFET ключей в среде Electronics Workbench (EWB), которая давно и заслуженно популярна при схемотехническом моделировании аналоговых и цифровых устройств и незаслуженно мало используема в области силовой электроники и источников вторичного электропитания. Разработан метод, позволяющий полноценно использовать возможности EWB для схемотехнического моделирования устройств преобразовательной техники. При проведении детального исследования, например, динамических параметров MOSFET ключа ёмкость затвора транзистора заряжалась от источника стабильного тока, а ток коммутировался силовым ключом. Получены временные зависимости тока стока и напряжения на затворе и стоке, динамика изменения входной ёмкости, достигающей на плато Миллера величины Свх=3,2 нФ. Получена оценка заряда затвора Qз=130 нКл, необходимого для переключения с учётом таких факторов, как величина тока затвора и тока стока, оказывающих влияние на Qз. Исследована статическая и динамическая составляющая мощности. Получено оптимальное значение тока затвора Iз=0,6 А, что существенно при выборе или проектировании драйвера управления ключом. 

Установлено, что моделирование MOSFET ключей в программе EWB даёт адекватные результаты определения параметров силовых транзисторов, которые согласуются с данными, приведёнными в Datasheet. А это позволяет моделировать потери MOSFET ключей и минимизировать их при любой нагрузке.